STM32G474xx HAL 用户手册
定义
篡改持续时间
RTC 导出的常量

定义

#define LL_RTC_TAMPER_DURATION_1RTCCLK   0x00000000U
#define LL_RTC_TAMPER_DURATION_2RTCCLK   TAMP_FLTCR_TAMPPRCH_0
#define LL_RTC_TAMPER_DURATION_4RTCCLK   TAMP_FLTCR_TAMPPRCH_1
#define LL_RTC_TAMPER_DURATION_8RTCCLK   TAMP_FLTCR_TAMPPRCH

定义文档

#define LL_RTC_TAMPER_DURATION_1RTCCLK   0x00000000U

在采样前,篡改引脚将在 1 个 RTCCLK 周期内预充电

定义在文件 490 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。

#define LL_RTC_TAMPER_DURATION_2RTCCLK   TAMP_FLTCR_TAMPPRCH_0

在采样前,篡改引脚将在 2 个 RTCCLK 周期内预充电

定义在文件 491 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。

#define LL_RTC_TAMPER_DURATION_4RTCCLK   TAMP_FLTCR_TAMPPRCH_1

在采样前,篡改引脚将在 4 个 RTCCLK 周期内预充电

定义在文件 492 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。

#define LL_RTC_TAMPER_DURATION_8RTCCLK   TAMP_FLTCR_TAMPPRCH

在采样前,篡改引脚将在 8 个 RTCCLK 周期内预充电

定义在文件 493 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。