篡改器有效电平

宏定义
#define	LL_RTC_TAMPER_ACTIVELEVEL_TAMP1   TAMP_CR2_TAMP1TRG
#define	LL_RTC_TAMPER_ACTIVELEVEL_TAMP2   TAMP_CR2_TAMP2TRG
#define	LL_RTC_TAMPER_ACTIVELEVEL_TAMP3   TAMP_CR2_TAMP3TRG

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宏定义文档

#define LL_RTC_TAMPER_ACTIVELEVEL_TAMP1   TAMP_CR2_TAMP1TRG

篡改器1输入下降沿（若TAMPFLT = 00）或保持高电平（若TAMPFLT ≠ 00）触发篡改检测事件

定义于文件 stm32g4xx_ll_rtc.h 的第 527 行。

#define LL_RTC_TAMPER_ACTIVELEVEL_TAMP2   TAMP_CR2_TAMP2TRG

篡改器2输入下降沿（若TAMPFLT = 00）或保持高电平（若TAMPFLT ≠ 00）触发篡改检测事件

定义于文件 stm32g4xx_ll_rtc.h 的第 528 行。

#define LL_RTC_TAMPER_ACTIVELEVEL_TAMP3   TAMP_CR2_TAMP3TRG

篡改器3输入下降沿（若TAMPFLT = 00）或保持高电平（若TAMPFLT ≠ 00）触发篡改检测事件

定义于文件 stm32g4xx_ll_rtc.h 的第 530 行。