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STM32G474xx HAL 用户手册
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宏定义 | |
| #define | LL_RTC_TAMPER_ITAMP1 TAMP_CR1_ITAMP1E |
| #define | LL_RTC_TAMPER_ITAMP3 TAMP_CR1_ITAMP3E |
| #define | LL_RTC_TAMPER_ITAMP4 TAMP_CR1_ITAMP4E |
| #define | LL_RTC_TAMPER_ITAMP5 TAMP_CR1_ITAMP5E |
| #define | LL_RTC_TAMPER_ITAMP6 TAMP_CR1_ITAMP6E |
| #define LL_RTC_TAMPER_ITAMP1 TAMP_CR1_ITAMP1E |
内部篡改1:RTC电源电压监控
定义在文件 547 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。
| #define LL_RTC_TAMPER_ITAMP3 TAMP_CR1_ITAMP3E |
内部篡改3:LSE监控
定义在文件 551 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。
| #define LL_RTC_TAMPER_ITAMP4 TAMP_CR1_ITAMP4E |
内部篡改4:HSE监控
定义在文件 552 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。
| #define LL_RTC_TAMPER_ITAMP5 TAMP_CR1_ITAMP5E |
内部篡改5:RTC日历溢出
定义在文件 553 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。
| #define LL_RTC_TAMPER_ITAMP6 TAMP_CR1_ITAMP6E |
内部篡改6:测试模式进入
定义在文件 555 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。
1.7.6.1