STM32G474xx HAL 用户手册
宏定义
内部篡改
RTC 导出的常量

宏定义

#define LL_RTC_TAMPER_ITAMP1   TAMP_CR1_ITAMP1E
#define LL_RTC_TAMPER_ITAMP3   TAMP_CR1_ITAMP3E
#define LL_RTC_TAMPER_ITAMP4   TAMP_CR1_ITAMP4E
#define LL_RTC_TAMPER_ITAMP5   TAMP_CR1_ITAMP5E
#define LL_RTC_TAMPER_ITAMP6   TAMP_CR1_ITAMP6E

宏定义文档

#define LL_RTC_TAMPER_ITAMP1   TAMP_CR1_ITAMP1E

内部篡改1:RTC电源电压监控

定义在文件 547 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。

#define LL_RTC_TAMPER_ITAMP3   TAMP_CR1_ITAMP3E

内部篡改3:LSE监控

定义在文件 551 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。

#define LL_RTC_TAMPER_ITAMP4   TAMP_CR1_ITAMP4E

内部篡改4:HSE监控

定义在文件 552 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。

#define LL_RTC_TAMPER_ITAMP5   TAMP_CR1_ITAMP5E

内部篡改5:RTC日历溢出

定义在文件 553 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。

#define LL_RTC_TAMPER_ITAMP6   TAMP_CR1_ITAMP6E

内部篡改6:测试模式进入

定义在文件 555 行的 stm32g4xx_ll_rtc.h 中。