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STM32G474xx HAL User Manual
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宏定义 | |
| #define | RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV32768 0x00000000U |
| #define | RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV16384 TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0 |
| #define | RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV8192 TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1 |
| #define | RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV4096 (TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1) |
| #define | RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV2048 TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2 |
| #define | RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV1024 (TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2) |
| #define | RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV512 (TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2) |
| #define | RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV256 |
| #define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV1024 (TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2) |
每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 1024
定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 302 行。
| #define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV16384 TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0 |
每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 16384
定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 294 行。
| #define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV2048 TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2 |
每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 2048
定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 300 行。
(TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1 | \
TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2)
每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 256
定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 306 行。
| #define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV32768 0x00000000U |
每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 32768
定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 292 行。
| #define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV4096 (TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1) |
每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 4096
定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 298 行。
| #define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV512 (TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2) |
每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 512
定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 304 行。
| #define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV8192 TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1 |
每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 8192
定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 296 行。
1.7.6.1