STM32G474xx HAL User Manual
宏定义
RTCEx防篡改采样频率
RTCEx导出常量

宏定义

#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV32768   0x00000000U
#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV16384   TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0
#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV8192   TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1
#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV4096   (TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1)
#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV2048   TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2
#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV1024   (TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2)
#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV512   (TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2)
#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV256

宏定义说明

#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV1024   (TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2)

每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 1024

定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 302 行。

#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV16384   TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0

每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 16384

定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 294 行。

#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV2048   TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2

每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 2048

定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 300 行。

值:
(TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1 | \
                                                 TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2)

每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 256

定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 306 行。

#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV32768   0x00000000U

每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 32768

定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 292 行。

#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV4096   (TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_0 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1)

每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 4096

定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 298 行。

#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV512   (TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1 | TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_2)

每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 512

定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 304 行。

#define RTC_TAMPERSAMPLINGFREQ_RTCCLK_DIV8192   TAMP_FLTCR_TAMPFREQ_1

每个篡改输入的采样频率为 RTCCLK / 8192

定义于文件 stm32g4xx_hal_rtc_ex.h 的第 296 行。